2026-02-26
國祥新視界
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景深太淺看不清微小零件? Nikon VMZ 疊圖功能一鍵合成全聚焦影像,支援 3D 視覺化與剖面量測,精準掌握高低落差。適用半導體、IC 封裝、PCB、光電面板、MEMS 及材料科學,大幅提升檢測效率與判讀準確度,讓每一次品管檢驗都清晰無死角!
在精密製造與品管檢測的日常中,大家一定遇過這個問題:當顯微鏡或量測儀的倍率一拉高,想看清微小零件的細節,卻因為「景深太淺」,導致焦點以外的區域直接糊成一片。想要一次看清高低落差極大的工件(例如 IC 封裝的打線、階梯狀的精密加工件),難道只能手動慢慢對焦,或是憑感覺瞎猜嗎?Nikon VMZ 系統內建的「疊圖功能」,正是為了解決這個光學困境而生。
傳統量測中,超過焦距的影像模糊不清是無法避免的光學硬傷。但透過 Nikon VMZ 強大的疊圖運算技術,系統能夠擷取多張「不同焦距」的局部影像,並將它們完美結合。


這個過程就像是把每一層最清晰的部分萃取出來,最終疊加成一張「從頭到尾都清楚」的全聚焦圖檔。無論工件的表面起伏有多複雜,所有細節都能在同一張圖上銳利、清晰地呈現,大幅降低了肉眼誤判的風險,也省去了反覆對焦的繁瑣時間。


光是擁有 2D 的全聚焦影像還不夠,若想要讓檢測功力大增,選配專屬的EDF/Stitching Express 軟體絕對是實戰上的得力助手 。這套軟體賦予了疊圖更豐富的數據價值:
• 任意縮放與細節檢視:軟體介面會清楚顯示程式中所有的疊圖圖檔,讓工程師可以自由選取、縮放,不放過任何微小瑕疵。

• 3D 視覺化 (3D View):讓原本平面的影像瞬間立體化,零件的高低起伏、立體佈局一目了然,有助於快速掌握工件的整體幾何型態。

• 一鍵剖面量測,數據直觀呈現:這是實務上極為強悍的功能!您只需在畫面上指定檢測區域,透過調整箭頭的位置和長度,系統就會立刻顯示出該區域的「剖面圖」。您可以直接在生成的剖面圖上進行量測,無論是微米級的高低段差、深度還是斜率,都能透過圖表精準掌握,讓數據說話。


Nikon VMZ 的疊圖功能搭配 EDF 軟體,早已超越了單純的「把圖看清楚」。它是一套從視覺優化到精準量測的完整解決方案。別再讓淺景深限制了您的檢測極限,善用疊圖神器,讓每一次的品管檢驗都精準無死角!
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國祥新世界
疊圖功能實戰解析,輕鬆掌握全焦段影像
我們不滿足普通,挑戰每個極限,突破每個障礙,確保每次「量測」都是最高水準
3則留言
芹芹
2026/02/26
謝謝分享
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kaka
2026/02/26
good
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ken
2026/02/26
good
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